同軸光源：
可(kě)以消除物體(tǐ)表面不平整引起的陰影(yǐng)，從而減少(shǎo)幹擾；部分采用分光鏡設計(jì)，減少(shǎo)光損失，提高(gāo)成像清晰度，均勻照射物體(tǐ)表面。
應用于：系列光源最适宜用于反射度極高(gāo)的物體(tǐ)，金屬、玻璃、膠片、晶片等表面的劃傷檢測，芯片和(hé)矽晶片的破損檢測，Mark 點定位，包裝條碼識别。